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2024/12/9 14:56

前CEO帕特 基辛格肯定英特爾制程團隊工作,稱良率不應簡單以百分比衡量

IT之家  溯波(實習)

英特爾本月 2 日宣布帕特 基辛格退休并辭去首席執(zhí)行官及董事會職務。不過帕特 基辛格在離職后仍關(guān)注英特爾,并在社交媒體上對“Intel 18A 良率百分比過低”的傳聞進行了回應。

先進制程一直是帕特 基辛格在任時著重關(guān)注的領(lǐng)域,因為工藝好壞決定了其主推的 IDM 2.0 戰(zhàn)略的成敗,他今年初曾在接受采訪時表示把整個公司都押注在了 18A 制程上。

部分外媒如 TechPowerUp 近日報道稱,“由于 Intel 18A 工藝不足 10%,博通取消了采用英特爾代工的計劃”。行業(yè)分析師 Patrick Moorhead 在 X 平臺上表示這類報道屬于“假新聞”,博通在測試芯片中也并未使用正式的 1.0 版 PDK(IT之家注:今年 7 月發(fā)布)。

帕特 基辛格 7 日對 Patrick Moorhead“澄清事實”的行為表示感謝,并表示他對英特爾 18A 技術(shù)開發(fā)團隊的出色工作和進步感到非常自豪。

帕特 基辛格昨日在另一條有關(guān)“臺積電 2nm 試產(chǎn)良率超過 60%”的推文下表示,由于大芯片良品率低,小芯片良品率高的事實,用百分比來衡量良品率并不恰當

他認為“任何人在不確定芯片尺寸的情況下,將良品率百分比作為衡量半導體健康狀況的指標,都是不了解半導體良品率的表現(xiàn)形式。”

英特爾 9 月 4 日曾表示 Intel 18A 每平方厘米缺陷數(shù)量已小于 0.40。0.40 這一數(shù)據(jù)帶入到外媒 SemiAnalysis 提供的芯片良率計算器中,以 Murphy's Model 良率模型,在 12 英寸晶圓、3mm 邊緣損失下:

如用于生產(chǎn)光罩尺寸大。26×33 mm)的芯片,則良率僅有 7.95%;

如生產(chǎn) 10×10 mm 的芯片,則良率提升至近 68%;

倘若制作英特爾酷睿 Ultra 200S 處理器 8+16 核 CPU 模塊(約 7.8×15 mm)同規(guī)模芯片,則良率為 63.78%。

可見芯片尺寸在其它參數(shù)一致時對良率存在明顯影響

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